半導體高倍測金相量顯微鏡

產品簡介
品智創(chuàng)思APO超長半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業(yè)打造的，填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發(fā)展空白。不同于傳統(tǒng)的金相顯微鏡，

產品型號：PZ-40MT-BD

廠商性質：生產廠家

訪問量：2543

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學形貌儀材料試驗機光學軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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品智創(chuàng)思半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業(yè)打造的，填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發(fā)展空白。

PZ-40MT-BD半導體檢查顯微鏡+電腦參數.jpg

不同于傳統(tǒng)的金相顯微鏡，品智創(chuàng)思APO長工金相顯微鏡選擇了緊湊的結構設計，外觀小巧輕便，操作更為靈活。95mm焦距物鏡超長工作距離，克服了常規(guī)金相顯微鏡無法觀察較高臺階半導體的限制。集成了明場、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，是理想的檢測半導體器件的工具。

產品特點：

所有光學部件均經過特殊處理并鍍有特殊膜層

靈活緊湊的結構，適應各種環(huán)境下的顯微觀察

長工作距專業(yè)金相物鏡，高倍物鏡采用半復消技術

各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像

APO長工半導體檢查顯微鏡-品智創(chuàng)思-4.png

半導體高倍測金相量顯微鏡集成多種觀察方式及專業(yè)的金相顯微技術，靈活精巧的設計使金相系統(tǒng)成為可安裝于大型機械設備中的專業(yè)金相顯微鏡。可作為大尺寸LCD面板、半導體器件、集成線路（IC）、晶圓（Wafer）、微機電系統(tǒng)（MEMS）或PCD線路板生產設備或檢測設備的視覺系統(tǒng)。通過攝影攝像接口，可將圖像輸出至監(jiān)視器或計算機方便快速檢測。

多

APO長工半導體檢查顯微鏡-品智創(chuàng)思-5.png

種觀察方式及專業(yè)的金相顯微技術，靈活精巧的設計使金相系統(tǒng)成為可安裝于大型機械設備中的專業(yè)金相顯微鏡。可作為大尺寸LCD面板、半導體器件、集成線路（IC）、晶圓（Wafer）、微機電系統(tǒng)（MEMS）或PCD線路板生產設備或檢測設備的視覺系統(tǒng)。通過攝影攝像接口，可將圖像輸出至監(jiān)視器或計算機方便快速檢測。

測試效果：